隨著物位儀表在各行業(yè)的廣泛應(yīng)用，物位儀表在測量過程中也遇到很多影響因素，今天來總結(jié)分享一下有哪些影響因素：

1、對于過溢掩護(hù)，可定義一個(gè)相應(yīng)距離值即盲區(qū)。

2、測量范圍與天線有關(guān)，不同規(guī)格天線精度有所不同。

3、測量范圍從波束涉及罐低的那一點(diǎn)開始算起，但在特別狀況下，若罐低為凹型或錐形，當(dāng)液位低于此點(diǎn)時(shí)將無法進(jìn)行測量。

4、如果介質(zhì)介電常數(shù)較小時(shí)，當(dāng)處于低液位時(shí)，罐底可見，為保障測量精度，倡議將零點(diǎn)調(diào)整。

5、隨濃度不同，泡沫既能夠吸收微波，又能夠?qū)⑵浞瓷?，但在正常條件下是能夠進(jìn)行測量的。

6、理論上測量到達(dá)天線尖端是能夠?qū)崿F(xiàn)的，考慮到侵蝕及粘附的影響，測量規(guī)模的終值應(yīng)與天線的尖端至少間隔100mm。

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